TIPO圖解「專利侵權鑑定」：https://ipkm.tipo.gov.tw/article/columnist/388/view（中文版），感覺很清楚，在此分享。
構成專利侵權的兩個情況：文義侵權（literal infringement）、均等論（doctrine of equivalents/DoE）。
侵權判定流程：
step 1：解析專利範圍、被控侵權對象
解析被控侵權對象：
step 2：比對技術特徵，判斷是否文義讀取
要符合文義讀取，需要專利範圍的每一技術特徵與被控侵權對象文義上一一對應。
step 3：（逐特徵判斷）如不符文義讀取，檢核是否適用均等論
針對不符文義讀取的被控侵權產品元件/專利特徵，若兩者不具實質差異，而以實質相同的方式（way），執行實質相同的功能（function），而得到實質相同的結果（result）時，兩者為均等。
step 4：檢核均等論的適用：全要件原則（all-elements rule）、禁反言（estoppel）、先前技術阻卻（prior art defence）、貢獻原則（disclosure dedication rule）
全要件原則：請求項每一個技術特徵都應出現（相同或均等）在被控侵權對象中，才能構成侵權。
禁反言：專利申請過程或維護專利過程的修正或答辯理由導致限縮專利範圍時，不得以均等論重為主張。
先前技術阻卻：專利範圍不能通過均等論擴大解釋到與先前技術相同或可輕易完成的範圍。（被控侵權者可以主張產品使用先前技術而排除侵權）
貢獻原則：專利說明書中有揭露，但未記載於專利範圍中，視為貢獻給大眾的部分，不得以均等論重為主張。（被控侵權者可以主張產品使用系爭專利的專利範圍未記載但有記載於說明書與圖式中的技術而排除侵權）
專利侵權鑑定流程圖：
「How is Patent Infringement Determined?」English version: https://www.tipo.gov.tw/en/cp-976-932890-4b7ae-2.html
其他參考：
Ron
沒有留言:
張貼留言